新品發(fā)布?。刿嚯姍C(jī)TSUBOSAKA 超薄大尺寸LED光源 VLB-3636LGP-CRI 

新品發(fā)布??！壺坂電機(jī)TSUBOSAKA 超薄大尺寸LED光源 VLB-3636LGP-CRI 

近期我司新推出壺坂電機(jī)TSUBOSAKA 超薄大尺寸LED光源 VLB-3636LGP-CRI 

壺坂電機(jī)TSUBOSAKA VLB-3636LGP-CRI 超薄大尺寸LED光源是一款采用x進(jìn)導(dǎo)光板（LGP，Light Guide Plate）技術(shù)的面光源產(chǎn)品。它以360mm × 360mm的大面積均勻發(fā)光配合j致纖薄的機(jī)身，為液晶面板檢測、半導(dǎo)體外觀檢查、醫(yī)療影像觀察等高精度光學(xué)檢測場景，提供了兼具輕薄形態(tài)與光學(xué)性能的理想照明解決方案。

該產(chǎn)品的核心在于其LGP導(dǎo)光板光學(xué)設(shè)計。不同于傳統(tǒng)的直下式LED陣列，VLB-3636LGP-CRI采用側(cè)邊入光配合精密導(dǎo)光網(wǎng)點結(jié)構(gòu)，使光線在導(dǎo)光板內(nèi)部充分混合后均勻射出。這一設(shè)計不僅實現(xiàn)了機(jī)身厚度的j致壓縮，更確保了整個發(fā)光面亮度的高度一致，消除了LED點陣帶來的亮度不均或暗區(qū)現(xiàn)象，特別適合對背景均勻性要求極為嚴(yán)苛的視覺檢測應(yīng)用。

在光學(xué)性能方面，VLB-3636LGP-CRI延續(xù)了壺坂電機(jī)對高品質(zhì)色彩還原的堅持。其平均顯色指數(shù)高達(dá)Ra 95以上，能夠精準(zhǔn)呈現(xiàn)被測物體的真實色彩，滿足液晶面板Mura檢測、彩色濾光片外觀檢查等高精度色彩評價需求。光源采用DC直流點燈方式，消除了頻閃干擾，確保與高速線陣相機(jī)或高分辨率面陣相機(jī)配合時，圖像采集的穩(wěn)定與清晰。

該光源的亮度均勻性表現(xiàn)尤為突出。得益于導(dǎo)光板的精密光學(xué)設(shè)計，其整個360mm×360mm發(fā)光面的亮度不均勻性可控制在±5%以內(nèi)。這意味著無論是中心區(qū)域還是邊緣角落，被測物體都能接收到高度一致的照明條件，為大尺寸樣品的全面檢測提供了可靠的均勻背景。亮度調(diào)節(jié)范圍寬廣，支持0-100%連續(xù)調(diào)光，且采用定電流控制技術(shù)，確保調(diào)光過程中色溫與光譜特性保持穩(wěn)定。

在結(jié)構(gòu)與安裝便利性上，VLB-3636LGP-CRI充分考慮了工業(yè)集成需求。超薄機(jī)身配合輕量化設(shè)計，使其可輕松嵌入各類自動化檢測設(shè)備、觀察暗箱或精密測量系統(tǒng)中。設(shè)備支持外部控制接口，便于實現(xiàn)遠(yuǎn)程調(diào)光與開關(guān)控制，適應(yīng)自動化產(chǎn)線的集中管控需求。其應(yīng)用領(lǐng)域廣泛：在液晶顯示行業(yè)，用于背光模組檢測、面板Mura評估、偏光片外觀檢查；在半導(dǎo)體領(lǐng)域，適用于晶圓表面缺陷檢測、芯片封裝外觀檢查；在印刷電路板行業(yè)，可用于大面積焊盤與線路的自動光學(xué)檢測；在醫(yī)療影像領(lǐng)域，則作為膠片觀察或數(shù)字病理掃描的均勻背光源。